Silindirik ve Toroidal İndüktörlerin Üretimi ve Testi

Bu proje, silindirik ve toroidal indüktörlerin üretimini, fiziksel özelliklerinin belirlenmesini ve bu indüktörlerin test edilerek teorik hesaplamalarla karşılaştırılmasını amaçlamaktadır. Çalışma kapsamında, farklı çekirdek malzemelerine sahip indüktörlerin üretimi gerçekleştirilmiş, indüktans değerleri teorik olarak hesaplanmış ve deneysel yöntemlerle ölçülerek hata analizleri yapılmıştır.

Deneyin Amacı

• Farklı çekirdek malzemelerine sahip silindirik ve toroidal indüktörlerin üretimini gerçekleştirmek,

• Üretilen indüktörlerin indüktans değerlerini teorik olarak hesaplamak,

• Gerçekleştirilen ölçümlerle teorik hesaplamaları karşılaştırarak hata analizi yapmak,

• Çekirdek malzemesinin ve sarım sayısının indüktans üzerindeki etkilerini incelemek.

Deney Nasıl Yapıldı?

Teorik Analizler:

• Silindirik ve toroidal indüktörlerin indüktans formülleri kullanılarak teorik hesaplamalar yapıldı.

• Çekirdek malzemelerinin manyetik geçirgenlik katsayıları dikkate alınarak teorik değerler belirlendi.

• RL devrelerinde akım ve gerilim ilişkileri incelenerek, ölçümler için gerekli teorik altyapı oluşturuldu.

  
  

Deneysel Uygulamalar:

• Dielektrik ve ferromanyetik çekirdeklere sahip silindirik ve toroidal indüktörler üretildi.

• Üretilen indüktörlerin sarım sayıları ve fiziksel boyutları belirlendi.

• RL devreleri kullanılarak indüktörlerin indüktans değerleri osiloskop ve multimetre ile ölçüldü.

• Teorik ve deneysel sonuçlar karşılaştırılarak hata analizi yapıldı.

Sonuç ve Açıklamalar

Deney sonuçları, teorik hesaplamalarla karşılaştırıldığında hata oranlarının özellikle ferromanyetik çekirdeğe sahip indüktörlerde yüksek olduğu gözlemlenmiştir. Bunun nedenleri arasında çekirdek malzemesinin manyetik özelliklerinin tam olarak bilinmemesi ve deneysel ölçüm hassasiyetleri yer almaktadır. Dielektrik çekirdekli indüktörlerde hata oranları daha düşük çıkmış, bu durum manyetik geçirgenliği düşük malzemelerin daha öngörülebilir sonuçlar vermesiyle açıklanmıştır.Büyük hata oranlarının giderilmesi için daha hassas ölçüm cihazları ve daha iyi karakterize edilmiş çekirdek malzemeleri kullanılması önerilmektedir. Gelecekte, farklı manyetik malzemelerin etkilerinin daha detaylı analiz edilmesi ve hata kaynaklarının azaltılması üzerine çalışmalar yapılabilir.

Proje Raporuna Buradan Ulaşabilirsiniz:

EE1200_PROJECT3.pdf

PDF dosyasını indir • 1.53MB